Дифрактометры серии XD
Представлено 3 моделями дифрактометров с вертикальным типом гониометра — XD-2, XD-3 и XD-6
Предлагаем вашему вниманию рентгеновские порошковые дифрактометры серии XD, предназначенные для фазового анализа поликристаллических образцов. Дифрактометры серии XD позволяют определять качественный и количественный фазовый состав образцов, состояния твердого тела (кристаллическое, аморфное, аморфное с кристаллическими включениями), изучать строение, структуру и свойства химических соединений, материалов, готовых изделий.
Рентгеновские дифрактометры серии XD могут быть использованы как для решения научно-исследовательских задач — изучения параметров кристаллической структуры (параметров элементарной ячейки, степени кристалличности, коэффициента температурного расширения, микро- и макронапряжений, и т.д.), так и прикладных задач — входного контроля исходного сырья, готовой продукции, контроля качества производственного процесса.
Преимущества дифрактометровсерии XD
Гониометр вертикального типа
- Простая установка/замена кюветы с образцом на гониометре, образец располагается горизонтально, что практически полностью исключает возможное просыпание порошкового образца на предметный столик, потерю образца, попадание частичек пробы внутрь гониометра и засорение движущихся частей двигателя гониометра.
- Возможность съемки мелкодисперсных сыпучих порошков, золей, гелей, жидких образцов, содержащих кристаллические вещества.
- Оптимальная конструкция для установки дополнительных приставок и коммуникаций (инертных газов, хладогента).
Высокоточный гониометр
- Порошковые дифрактометры серии XD оснащены гониометрами, характеризующимся высокой точностью измерения и воспроизводимостью установки угла, минимальным шагом сканирования 0.0001° (модель XD-6).
Источник излучения
- Cтеклянные и керамические рентгеновские трубки с максимальной мощностью 2.2кВт,
- Широкий выбор материала анода (Cu, Mo, Fe, Co, Cr, W, Ag).
Дополнительные принадлежности
- Изогнутый графитовый кристалл монохроматор, устройство для запрессовки порошковых образцов, приставка для многофункциональных измерений (построение полюсных фигур, измерения напряжений, валовый количественный анализ), приставки для измерения в широком температурном диапазоне от -190 °С до +800 °С, шестипозиционный держатель образцов, приставка для измерения волокон, тонких пленок, образцов под давлением, Ф-сканирования, измерение остаточных напряжений.
Система замкнутого водяного охлаждения
| AC5600B | CW-2F | |
| Тип исполнения/место установки | Моноблок, устанавливается в помещении | Сплит-система, внешний блок, устанавливается в технологическом помещении/на улице, внутренний блок устанавливается в помещении |
| Мощность охлаждения, Вт | 5600 | 4000 |
| Шум, дБ | 60 | 50 (внутренний блок) 65 (внешний блок) |
| Задаваемый температурный диапазон, °С | 5 - 35 | 5 - 35 |
| Объем резервуара, л | 60 | 32 |
| Скорость потока воды, л/мин | 8 – 30 (регулируемая) | 3.5 |
| Давление потока воды, МПа | 0.10 – 0.45 (регулируемое) | 0.08 |
| Потребляемая мощность, Вт | 3000 | 1700 |
| Электропитание | 220В, 50Гц | 220В, 50Гц |
| Габариты, (Ш×Г×В) | 580×680×1060, мм | 600х400х900 (внутренний блок) 850х300х600 (внешний блок) |
| Масса | 130 кг | 70 (внутренний блок) 80 (внешний блок) |
Применение
- Метод порошковой рентгеновской дифрактометрии нашел широкое применение в различных областях исследования благодаря ряду преимуществ. Для проведения исследования требуется небольшое количество образца, отсутствует необходимость выращивания монокристаллов. С помощью дифрактометрии возможно различать разные модификации одного и того же химического соединения. Метод является неразрушающим, после проведения анализа образец сохраняется в неизменном виде и может быть использован для дальнейшего изучения.
| Модель | XD-2 | XD-3 | XD-6 |
| Рентгеновская трубка | |||
| Тип | Нормальный фокус, Cu-анод (стандартно) | ||
| Мощность | 2 кВт | ||
| Генератор | |||
| Мощность | 3 кВт | 4 кВт | |
| Напряжение на трубке | 15 кВ ~ 60 кВ | ||
| Ток на трубке | 6 мА ~ 50 мА | 6 мА ~ 80 мА | |
| Сигнализация | В случае падения/скачка напряжения, перегрузки по току, отключения воды, перегрева | ||
| Гониометр | |||
| Тип | Вертикальный (θ-2θ ) | Вертикальный (θ-θ ) | |
| Радиус сканирования | 180 мм | 150 мм — 285 мм изменяемый | |
| Режимы сканирования | θ-2θ связанный; θ, 2θ независимый | θs-θd связанный; θd, θs независимый | |
| Диапазон измерения | 0° ~ 140° (θ) | 0° ~ 140° (θ) | |
| Максимальная скорость | 120 °/мин | 1800 °/мин | |
| Режимы измерения | Непрерывное сканирование; сканирование с временным шагом; сканирование с постоянным шагом | ||
| Скорость непрерывного сканирования | 0.125 °/мин ÷ 120 °/мин | ||
| Воспроизводимость угла | ≤0.0006° | ≤0.0005° | |
| Точность измерения | 0.001° | ≤0.001° | |
| Минимальный размер шага | 0.00025° | 0.0001° | |
| Детектор | |||
| Тип | Сцинтилляционный счетчик, кристалл NaI | ||
| Программное обеспечение | Управление всеми блоками дифрактометра, вращение гониометра, сбор данных, графическое отображение. | ||
| Качественный анализ, количественный анализ, метод Ритвельда, поиск пика, площадь пика, высота пика, разделение пиков, вычитание Kα2 линии, вычитание фона, наложение рентгенограмм, расчет параметров элементарной ячейки, определение степени кристалличности, остаточных напряжений, работа с коммерческими базами данных. Количественный анализ без использования стандартных образцов, ПО включает рентгенографические данные около 2000 минералов (опция). | |||
| Корпус | |||
| Безопасность | Активация рентгеновского излучения при закрытой двери дифрактометра и открытой заслонки. | ||
| Пропускание рентгеновского излучения | ≤0.1 мкЗиверт/ч | ||
| Размер рсновного блока | Д × Ш × В 1 219.2 х 812.8 × 1 854.2, мм | ||
| Масса | 500 кг | ||
Заказать демонстрацию оборудования в лаборатории или onlineЕсли вы хотите познакомиться с прибором в живую и увидеть его, попробовать, задать вопросы...